400-150-1718 直读光谱仪即原子发射光谱仪，是伴随着计算机技术的发展迅速发展的一类仪器。由于计算机技术的发展，电子技术的发展，电子计算机的小型化及微处理机的出现和普及，成本降低等原因，光谱仪器从很久以前就采用计算机控制，这不仅提高了分析精度和速度，而且对分析结果的数据处理和分析过程实现自动化控制。
直读光谱仪用于对金属材料化学成分的定量检测，目的在于对被检测材料有一个直接的了解，以判断被测材料是否合格。直读光谱仪虽然本身测量准确度很高，但测定试样中元素含量时， 所得结果与真实含量通常不一致，存在一定误差。下面就误差的种类、来源及如何避免误差进行分析。
根据误差的性质及产生原因， 直读光谱仪误差主要有两类：
1. 直读光谱仪系统误差
(1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。
(2)标样和试样的物理性能不完全相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。
(3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时，测出的数据会有所差别。
(4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时，混入未知合金元素而引入系统误差。
要消除系统误差，需要严格按照标准样品制备规定要求进行样品备制。为了检查系统误差，还需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
2.直读光谱仪偶然误差
偶然吴超与样品成分不均匀有关。因为光电光谱分析所消耗的样品很少，样品中元素分布的不均匀性、组织结构的不均匀性，导致不同部位的分析结果不同而产生偶然误差。
(1)熔炼过程中带入夹杂物，产生的偏析等造成样品元素分布不均。
(2)试样的缺陷、气孔、裂纹、砂眼等。
(3)磨样纹路交叉、试样研磨过热、试样磨面放置时间太长和压上指纹等因素。
要减少偶然误差，就要精心取样，消除试样的不均匀性及试样的铸造缺陷，也可以重复多次分析来降低分析误差。
